微分干涉顯微鏡（PDB檢測(cè)）DMM-1100C

微分干涉顯微鏡（PDB檢測(cè)顯微鏡）DMM-1100C

DMM-1100C型透反射金相顯微鏡采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化的功能設(shè)計(jì)理念，可實(shí)現(xiàn)偏光觀察、明場(chǎng)觀察、反射暗場(chǎng)、透射觀察、反射微分干涉觀察功能。設(shè)計(jì)符合人機(jī)工程學(xué)要求的理想設(shè)計(jì)，低手位操作更方便舒適。適用于金相組織及表面形態(tài)的顯微觀察，本儀器適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業(yè)用于觀察半透明或不透明的物資，適合對(duì)太陽(yáng)能電池硅片、半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)、電路基板、FPD、精密模具的檢測(cè)分析等。

詳細(xì)介紹技術(shù)參數(shù)

微分干涉顯微鏡（PDB檢測(cè)顯微鏡）DMM-1100C

一、DMM-110C透反射金相顯微鏡主要用途：

DMM-1100C型透反射金相顯微鏡采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化的功能設(shè)計(jì)理念，可實(shí)現(xiàn)偏光觀察、明場(chǎng)觀察、反射暗場(chǎng)、透射觀察、反射微分干涉觀察功能。設(shè)計(jì)符合人機(jī)工程學(xué)要求的理想設(shè)計(jì)，低手位操作更方便舒適。適用于金相組織及表面形態(tài)的顯微觀察，本儀器適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業(yè)用于觀察半透明或不透明的物資，適合對(duì)太陽(yáng)能電池硅片、半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)、電路基板、FPD、精密模具的檢測(cè)分析等。

二、DMM-110C透反射金相顯微鏡的主要特點(diǎn)：

1、采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，提供的光學(xué)性能，配無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)工作距離物鏡，超寬目鏡觀察筒及φ22mm大視野目鏡.

2、低手位操作，降低長(zhǎng)時(shí)間操作時(shí)的疲勞，儀器主體采用全白噴漆，美觀大方，采用內(nèi)六角螺釘固緊儀器連接部分，無(wú)任何裸露在外的螺釘.

3、三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光、反射、透射、暗場(chǎng)、微分干涉觀察，可進(jìn)行100%透光攝影.

4、高像素?cái)?shù)字成像系統(tǒng)，電腦顯示成像真實(shí)清晰，多種攝像機(jī)和功能軟件可供選擇.

5、超低位粗微動(dòng)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu)，微動(dòng)格值:2μm，帶鎖緊限位裝置，防止鏡頭碰觸樣品和載物臺(tái)自動(dòng)下滑.

6、微分干涉相襯觀察時(shí)圖像清晰，干涉色均勻，具有較強(qiáng)的浮雕感.